檢測(cè)項(xiàng)目：

交變濕熱試驗(yàn),低溫試驗(yàn),外殼防水試驗(yàn),恒定濕熱試驗(yàn),溫度變化試驗(yàn),自由跌落試驗(yàn),熒光紫外燈試驗(yàn),高溫試驗(yàn)

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：

1、GB/T 16422.3-2014 塑料 實(shí)驗(yàn)室光源暴露試驗(yàn)方法 第3部分:熒光紫外燈 GB/T 16422.3-2014

2、GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫 5.2

3、GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫 GB/T 2423.2-2008

4、GB/T 4208-2017 外殼防護(hù)等級(jí)（IP代碼） 14.2.1和14.2.2

5、GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)DB:交變濕熱（12h+12h循環(huán)）

6、IP 外殼防護(hù)等級(jí)（代碼） GB/T 4208-2017

7、GB/T 2423.3-2016 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn) GB/T 2423.3-2016

8、GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫 5.2

9、GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化 GB/T 2423.22-2012

10、GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫 GB/T 2423.1-2008

11、GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化 7

12、GB/T 16422.3-2014 塑料 實(shí)驗(yàn)室光源暴露試驗(yàn)方法 第3部分:熒光紫外燈 6.6

13、GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落

14、DB: 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)交變濕熱（12h+12h循環(huán)） GB/T 2423.4-2008

15、Ec： 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)粗率操作造成的沖擊（主要用于設(shè)備型樣品） GB/T 2423.7-2018

16、GB/T 2423.3-2016 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)